第53回X線分析討論会 プログラム
第１日（10月26日（木））
受付（8.30～）
開会挨拶（8.55～9.00）
第１セッション（9.00～10.20）
O1-1 和歌山カレーヒ素事件鑑定を用いたSPring-8定量性の評価 （京大工） ○河合潤
O1-2 In-situ XAFS法による酸素還元反応に対する酸化物上での活性サイトの調査 （名城大理工） ○才田隆広, 平野晶子, 丹羽悦子, 佐藤史彬
O1-3 錦江湾海底で産出されたスティブナイト中の金の化学状態分析 （1) 福島大理工, 2)日女大理, 3）九大院工, 4）九大院理） ○大橋弘範1), 川本大祐2), 米津幸太郎3), 横山拓史4)
O1-4s 焦電結晶を用いた金ナノ粒子作製と評価 （東理大院総合化） ○目﨑雄也, 国村伸祐
休憩（10.20～10.40）
特別講演１（10.40～11.20）
S1-1 時空間分解XAFS計測ビームラインの建設および固体高分子形燃料電池のオペランド分析 （1) JASRI, 2) 電通大）宇留賀朋哉1)2)
第2セッション（11.20～12.00）
O1-5s 全反射条件での硫黄K殻偏光XAFS解析によるポリチオフェン薄膜の配向性評価 （広島大院工） ○濱嶋悠太, 甲斐喬士, 大下浄治, 駒口健治, 早川慎二郎
O1-6s 負の熱膨張材料Zr2(WO4)(PO4)2系の合成および構造解析 （1）徳島大院先端技科, 2）徳島大工, 3）徳島大院社会産業理工） ○井上紀正1), 幸泉哲太1), 澤田朋輝2), J. Euiseok1), 村井啓一郎3), 森賀俊広3)
昼休み（12.00～13.00）
ポスターセッション（13.00～14.50）
P1 分析深さを変えた非対称面X線回折法による半導体基板表面ダメージ層の非破壊評価法の開発 （1)旭化成基盤研, 2)旭化成UVCプロジェクト） ○辰田和穂1), 永富隆清1), 松野信也1), 吉川陽2)
P2s X線回折法による二相ステンレスの強度と伸びに影響を及ぼすミクロ組織の解析 （1)茨城大工, 2)茨城大フロンティア, 3)日本冶金, 4)茨城大院理工） ○胡桃沢健太1), 小貫祐介2), 韋富高3), 轟秀和3), 齋藤洋一3), 佐藤成男4)
P3s X線回折法を用いたミクロひずみ解析に基づく加工硬化の予測 （1)茨城大工, 2)茨城大院理工） ○林桃希1), 佐藤成男2)
P4 鉄鋼スラグ中遊離石灰のX線回折法とエチレングリコール抽出法による定量比較 （1)東京都市大工, 2)東京都市大院工） ○江場宏美1), 長沢祥吾1), 望月寛孝2)
P5s 粉末 X 線回折/Rietveld 解析による放射性セシウムを含む土壌中の粘土鉱物の定量分析 （1)明大院理工, 2)リガク, 3)明大理工） ○笠利実希1), 福田大輔1), 大渕敦司2)3), 小池裕也3)
P6s 固化および撥水処理を施した焼却飛灰中放射性セシウムの存在形態調査 （明大院理工） ○福田大輔, 笠利実希, 小池裕也
P7s 高エネルギーX線回折ラインプロファイル解析法によるTi合金の引張変形中転位増殖観察 （1)茨城大理工, 2)東北大金研, 3)仙台高専, 4)JAEA） ○黒田あす美1), 山中謙太2), 森真奈美3), 伊藤美優1), 菖蒲敬久4), 佐藤成男1), 千葉晶彦2)
P8s X線回折法による銅合金の引張変形に伴うミクロ組織変化の追跡 （1)茨城大院理工, 2)三菱伸銅若松製作所, 3)三菱マテリアル, 4)東北大多元研） ○伊藤美優1), 小林敬成2), 伊藤優樹3), 松永裕隆3), 牧一誠2), 森広行3), 鈴木茂4), 佐藤成男1)
P9s 鉄鋼の急冷に伴う相変態現象その場中性子回折測定法の開発 （1)茨城大工, 2)茨城大フロンティア, 3)茨城県, 4)茨城大院理工） ○平野孝史1), 小貫祐介2), 星川晃範2), 石垣徹2), 富田俊郎3), 佐藤成男4)
P10s 小型エネルギー分散型X線回折装置の高感度化に関する研究 （東理大院総合化） ○長島陽一, 国村伸祐
P11s 焦電結晶を用いた金ナノ粒子生成法の真空度の検討 （1)東理大工, 2)東理大院総合化） ○岡本亮大1), 目﨑雄也2), 国村伸祐1)2)
P12 フラックス法によるYAG:Ceの合成 （福教大） ○原田雅章, 上野禎一
P13 Co-Feプルシアンブルー類似体によるリーゼガングバンドのX線分析 （日本女子大理） 林久史, ○佐藤由衣, 今井理紗子, 坪谷祐奈, 平野理沙子
P14 リーゼガングバンドの磁場効果のX線分析 （日本女子大理） 林久史, ○高石麻央, 青木彩, 島崎美帆
P15 表面X線分析を用いたナノシート炭化現象メカニズムの解析 （1)京大産官学, 2)京大材工） ○福田勝利1), 豊田智史2), 松原英一郎2)
P16 硬X線光電子分光を用いた金属/ポリイミド界面の密着機構の探究 （住友電工） ○久保優吾, 溝口晃, 斎藤吉広
P17 酸化アルミニウム薄膜の構造及び電子状態解析 （三菱電機） ○本谷宗
P18 放射光XPSによるNO吸着前後のRhナノ粒子電子構造変化の解析 （1)マツダ, 2)名古屋大, 3）広島大） ○國府田由紀1), 住田弘祐1), 小川智史2), 八木伸也2), 生天目博文3)
P19s “Purifie” of ORGANO for Low Power TXRF （Kyoto Univ.） ○Bolortuya Damdinsuren, Jun Kawai
P20s コロジオン薄膜試料台の性能評価 （1)量研機構, 2)東邦大理） ○松山嗣史1)2), 石井康太2), 伊豆本幸恵1), 酒井康弘2), 吉井裕1)
P21 全反射蛍光X線分析による難溶性粉末試料の分析方法 （1)リガク, 2)産総研） ○高原晃里1), 大渕敦司1), 村井健介2)
P22s 小型全反射蛍光X線分析装置を用いた顔料使用製品からの溶出液中の微量元素分析 （東理大工） ○徳岡佳恵, 国村伸祐
P23s 小型全反射蛍光X線分析装置を用いた米中微量ヒ素分析における前処理の検討 （東理大院工） 清 文乃, ○国村 伸祐
P24s 軟X線吸収分光法による機械研磨h-BNの酸化反応解析 （兵庫県大院工） ○吉田圭吾, 村松康司
P25s 非ベンゼノイドsp2炭素のC K端XANES解析 （兵庫県大院工） ○平井佑磨, 村松康司
P26 Operando NEXAFSによる摩擦面の分析 （1)豊田中研, 2)兵庫県大, 3)ローレンスバークレー国立研） ○高橋直子1), 奥山勝1), 磯村典武1), 大森俊英1), 遠山護1), 木本康司1), 村松康司2) , E. M. Gullikson3)
P27s 通常X線源を用いる分散型XAFS測定装置の開発と価数の動的追跡 ー信号強度とエネルギー分解能の最適化ー （広島大院工） ○大村健人, 駒口健治, 早川慎二郎
P28 マグネシウム電解液のオペランド条件下における軟X線XAFS測定 （立命館大SRセ） ○家路豊成, 中西康次, 太田俊明
P29 軟X線XAFSの蛍光収量法による遷移金属酸化物のO K吸収端スペクトルと分析深さ （1)日鉄住金テクノ, 2)立命館大SRセ） ○伊藤亜希子1), 安達丈晴1), 速水弘子1), 薄木智亮1), 山中恵介2)
P30s FAU型ゼオライト担持Ni(II)化学種の酸化還元特性の解析と触媒活性への影響 （立命館大院生命科） ○橋本大介, 山下翔平, 片山真祥, 稲田康宏
P31s シリカ担持Ni粒子表面に存在するNiOの還元過程に関するin situ XAFS解析 （立命館大生命科学） ○窪池直人, 山本悠策, 山下翔平, 片山真祥, 稲田康宏
P32s 2012年から2014年の有明海佐賀県海域の底泥中の鉄の存在状態 （1)県立広島大院総合学術, 2)県立広島大生命環境, 3)佐賀大院工, 4)九州シンクロトロン光研究セ） ○竹本鮎美1), 西本潤2), 田端正明3), 瀬戸山寛之4)
P33s Al含有シリカガラス中における希土類元素の局所構造分析 （1)九州大工, 2)福島大理工, 3)九州大理） ○井上翔太1), 米津幸太郎1), 大橋弘範2), 横山拓史3)
P34s リチウムイオン電池電極におけるリチウムの分布測定(LIBS)と遷移金属価数分布測定(XAS)の比較 （1)東北大金研, 2)東北大多元研） ○田口洋行1), 今宿晋1), 柏倉俊介1), 我妻和明1), 藤枝俊2), 川又透2), 鈴木茂2)
P35 エネルギー分散形蛍光X線分析による水砕スラグの迅速分析 （1）日立ハイテクサイエンス, 2)アメテックジャパン） ○篠原圭一郎1), 辻川葉奈1), 深井隆行1), 添田直希1), 大柿真毅1), 宮城琢磨2)
P36 モノクロメータを用いた蛍光X線分析装置による焼却灰中のP分析 （アワーズテック） ○永井宏樹, 椎野博, 中嶋佳秀
P37s 小型偏光X線励起による鋼材のXRF測定 （京都大院工） ○杉野智裕, 田中亮平, 河合潤
P38 同時多波長分散型蛍光X線分析装置(PS-WDXRF)の開発 （島津製作所） ○佐藤賢治, 和泉拓朗, 足立晋, 貝野正知, 古川博朗
P39s FP法によるエネルギー分散蛍光Ⅹ線の高精度化の基礎研究 （1)京大院工, 2)京大工） ○山崎慶太1), 田中亮平2), 河合潤2)
P40 熱輻射によるXRFスペクトル変化 （京大工） ○田中亮平, 河合潤
P41 広帯域多層膜回折格子を用いたテンダーX線平面結像型分光器の性能評価 （量研） ○今園孝志
P42 ハンドヘルド蛍光X線分析による水中元素のオンサイト定量 （1)明治大理工, 2)リガク） ○萩原健太1), 小池裕也1), 相澤守1), 中村利廣1)2)
P43s 卓上型蛍光X線分析装置における2次ターゲット適用可能性と茶葉の組成分析 （1)阪市大工, 2)日本電子） ○古里拓巳1), 朱静遠1), 高橋はるな2), 辻幸一1)
P44s 全視野型蛍光X線定量イメージング法の基礎的検討 （1)京都市産技研, 2)阪市大院工, 3)IBAM-CNR） ○山梨眞生1)2), 山内葵2), 辻幸一2), F. P. Romano3)
P45s 斜入射配置での全視野エネルギー分散型蛍光X線イメージング （1)阪市大工, 2)阪市大工・京都市産技研, 3）IBAM-CNR） ○山内葵1), 山梨眞生2), F. P. Romano3), 辻幸一1)
P46 X線分析顕微鏡を用いた、食品中元素の定量マップ作成 （堀場テクノ） ○中野ひとみ, 田中悟, 駒谷慎太郎
P47 X線分析顕微鏡(XGT)による植物の元素分布測定 （堀場テクノ） ○中村ちひろ, 中野ひとみ, 横山政昭, 駒谷慎太郎
P48 RePACを用いたAlN成膜・改質膜組織のCL発光特性 （1)兵庫県工業技術セ, 2)神港精機, 3)大阪大, 4)京都大） ○山下満1), 野間正男2), 長谷川繁彦3), 江利口浩二4)
P49 XRFを中心とした非破壊オンサイト分析によるエジプト・コンスウエムヘブ墓壁画の顔料相同定と化学組成の定量的評価の試み （1)東理大理, 2)東日大, 3)金沢大新学術創成, 4)早稲田大文） ○阿部善也1), 扇谷依李1), 日髙遥香1), 中井泉1), 高橋寿光2), 河合望3), 近藤二郎4), 吉村作治2)
P50s 可搬型光分析装置の複合利用による葛飾北斎の“晩年の肉筆画”のその場分析 （1)東理大理, 2)デンマテリアル・色材科学研） ○赤城沙紀1), 平山愛里1), 阿部善也1), 中井泉1), 下山進2)
P51s トルコ,カマン・カレホユック遺跡出土彩文土器の製作技法の解明 （1)東理大理, 2)アナトリア考古研） ○大塚晶絵1), 阿部善也1), 中井泉1), 松村公仁2), 大村幸弘2)
P52s 放射光マイクロビーム蛍光X線法による毛髪中微量元素の3D濃度分布解析 （1)広島大院工, 2)高知大教育, 3)JASRI） ○近藤涼介1), 大和拓馬1), 西脇芳典2)3), 本多定男3), 早川慎二郎1)3)
P53s 微小部蛍光X線分析装置による木材中の銅系防腐剤の分布解析 （1)阪市大工, 2)京大農） ○仲西桃太郎1), 辻幸一1), 藤井義久2)
P54s 単色X線を励起源とする共焦点型微小部蛍光X線分析装置の開発 （1)阪市大工, 2)リガク） ○三田昇平1), 河原直樹1)2), 辻幸一1)
P55 科学捜査試料のX線吸収端近傍スペクトルによる異同識別の試み （1)高知大教育, 2)JASRI, 3)広島大院工） ○西脇芳典1), 本多定男2), 金田敦徳3), 大和拓馬3), 早川慎二郎3)
P56s 放射光X線分析により明らかになった福島第一原発事故由来の放射性粒子の性状および飛散状況 （1)東理大理, 2)MRI, 3)首都大, 4)RCAST, 5)RESTEC, 6)東京大） ○小野﨑晴佳1), 小野貴大1), 飯澤勇信1), 阿部善也1), 中井泉1), 足立光司2), 五十嵐康人2), 大浦泰嗣3), 海老原充3), 宮坂貴文4), 中村尚4), 鶴田治雄5) , 森口祐一6)
P57s ウラン汚染針刺し傷モデルに対する蛍光X線分析 （1)量子科技研放射線医学総研, 2)東邦大理） ○石井康太1)2), 松山嗣史1)2), 伊豆本幸恵1), 酒井康弘2), 吉井裕1)
P58 模擬瓦礫浸漬液中のウランの全反射蛍光X線分析 （1)量研機構, 2)量研機構・東邦大, 3)東邦大） ○吉井裕1), 松山嗣史2), 伊豆本幸恵1), 石井康太2), 酒井康弘3)
P59s 非破壊XRF/XANESによる古代エジプトの銅赤ガラスの製法とその変遷の解明 （1)東理大理, 2）古代エジプト美術館） ○日髙遥香1), 阿部善也1), 中井泉1), 菊川匡2)
P60s ハバロフスク出土ガラスのオンサイト蛍光X線分析と考古学的研究 （1)東理大理, 2)MIHO MUSEUM, 3)金沢学院大, 4)函館高専, 5)淑徳大, 6)青森埋文セ, 7)様似町教委, 8)ロシア科学アカデミー, 9)法政大） ○新井沙季1), 馬場慎介1), 村串 まどか1), 今井 藍子1), 中井 泉1), S. ラプチェフ2), 小嶋 芳孝3), 中村 和之4), 三宅俊彦5), 中澤寛将6), 高橋美鈴7), G. マキシム8), Y.G. ニキーチン8), 小口雅史9)
P61s 非破壊オンサイト蛍光X線分析によるインド出土古代ガラスの考古化学的研究 （1)東理大理, 2)デカン大古代インド史・文化・考古学, 3)マハーラーシュトラ政府考古局, 4)関西大文） ○今井藍子1), 新井紗季1), 村串まどか1), S. Vaidya2), S. Ganvir2), V. Sontakke3), 上杉彰紀4), 中井泉1)
P62 放射光蛍光X線分析による口腔関連組織中の微量金属元素の局在評価と診断への応用 （1)医科歯科大院医歯） ○宇尾基弘1), 和田敬広1)
P63 積極的な粉砕による銅精鉱からの砒素浸出促進を目指した基礎的研究 （東北大多元研） ○篠田弘造, 石原真吾, 加納純一
P64 X線吸収微細構造スペクトルの成分分析による塩酸溶媒中のCo(II)クロロ錯体構造解析 （東北大多元研） ○打越雅仁, 篠田弘造
P65 45°にコンプトン散乱される電子のド・ブロイ波を回折格子としたX線偏光子 （京大工）○田中亮平，河合潤
特別講演-浅田賞受賞講演（15.00～15.40）
S1-2 放射光軟X線吸収分光における計測技術の高度化と蓄電池研究への応用 （立命館大SRセ）中西康次
第3セッション（15.40～16.40）
O1-7s 同軸ケーブルにおける信号の乱れによる蛍光X線スペクトルへの影響 （1)京大院工, 2)京大工） ○吉田昂平1), 田中亮平2), 河合潤2)
O1-8s 蛍光X線強度計算ソフトの開発と放射光を用いる微量元素の定量分析 （1)広島大院工, 2）高知大教育, 3）JASRI） ○大和拓馬1), 西脇芳典2)3), 本多定男3), 早川慎二郎1)3)
O1-9s 井桁構造を有するレジスト塗布膜を利用した全反射蛍光X線分析精度の向上に関する検討 （1）阪市大院工, 2）日本電子） ○蓬田直也1), 小入羽祐治2), 辻幸一1)
休憩（16.40～17.00）
特別講演2（17.00～17.40）
S1-3 Ｘ線位相イメージング法の原理とその応用 （日立製作所基礎研究セ）米山明男
第4セッション（17.40～18.40）
O1-10s 共焦点型X線回折装置を用いる非破壊横断面分析 （1)東京都市大院工, 2)東京都市大工） ○高橋良仁1), 中町龍司2), 淡路さつき1), 江場宏美1)
O1-11s 蛍光X線分析による日本出土古代ガラスの着色元素に基づく細分類 （東理大理） ○村串まどか, 中井泉
O1-12s X線分析を用いたシダ植物ヘビノネゴザ(Athyrium yokoscense)のカルスにおける希土類元素蓄積機構の解明 （1）東京電機大院工, 2）電力中研, 3）東京電機大工） ○廣瀬菜緒子1), 後藤文之2), 保倉明子3)
記念集合写真（18.40～18.50）
ミキサー（19.00～21.00）
第2日（10月27日（金））
第5セッション（9.00～10.20）
O2-13 SACLAを用いた遷移金属ダイカルコゲナイドの格子ダイナミクス観測 （1）理研, 2）東大工, 3）東大物性研, 4）阪大理, 5）JASRI） ○下志万貴博1), 中村飛鳥2), 石坂香子2), 田久保耕3), 平田靖透3), 和達大樹3), 山本達3), 松田巌3), 田中良和1), 辛埴3)，池浦晃至2), 高橋英史2), 酒井英明4), 石渡晋太郎2), 富樫格1,5), 大和田成起1), 片山哲夫1,5), 登野健介1,5), 矢橋牧名1,5)
O2-14 単色X線を用いたリチウムイオン二次電池正極材の充放電in-situ XRD解析 （住友金属鉱山） ○小野勝史, 鈴木奈織美, 松本哲
O2-15 中性子回折装置iMATERIAを用いたラミネート型リチウムイオン二次電池のマルチスケール構造解析 （1)茨城大フロンティア, 2)茨城大量子線） ○吉田幸彦1), 小泉智2), 佐藤成男2)
O2-16 Full Field XRF and scanning XRF : Novel approaches for a real time elemental imaging of 2D and 3D samples （1）IBAM-CNR, 2）Osaka City Univ） ○Francesco Paolo Romano1), C. Caliri1), L. Pappalardo1), H. C. Santos1), F. Rizzo1), K. Tsuji2)
休憩（10.20～10.40）
第6セッション（10.40～12.20）
O2-17 ナノインプリントフィルムを用いた液体試料前処理とFP法によるミネラル成分の定量分析 （1）日本電子, 2）山形県工業技術セ） ○小入羽祐治1), 小野寺浩1), 矢作徹2)
O2-18 鉱石の蛍光X線分析における正確さの向上 （1)住友金属鉱山） ○蓮野隆太, 加岳井敦, 團上亮平
O2-19 卓上型全反射蛍光X線分析装置による液体分析の検討 （リガク） ○高原晃里, 大渕敦司, 森山孝男
O2-20 ホウ素-K発光分光のための酸化物膜付加による高回折効率広受光角ラミナー型回折格子（1)量研量子ビーム, 2)東北大多元研, 3)島津デバイス部） ○小池雅人1), 羽多野忠2), ピロジコフ A アレックス1), 寺内正己2), 浮田龍一3), 西原弘晃3), 笹井浩行3), 長野哲也3)
O2-21 4f系化合物のX線吸収分光と時間分解測定への道 （1）東大物性研, 2）JASRI/SPring-8） ○和達大樹1), 田久保耕1), 津山智之1), 横山優一1), 山本航平1), 平田靖透1), 伊奈稔哲2), 新田清文2), 水牧仁一朗2), 鈴木慎太郎1) , 松本洋介1), 中辻知1)
昼休み（12.20～13.20）
依頼講演１（13.20～14.00）
I2-1 冬期の樹氷と雪の中の非水溶性成分と水溶性成分による東アジアの大気汚染物質の長距離輸送機構 （1）徳島大院社会産業理工, 2）日立ハイテク, 3）リガク） ○今井昭二1), 上村健2), 児玉憲治3), 山本祐平1)
第7セッション（14.00～15.00）
O2-22 掘削残土の蛍光X線分析用データ管理試料の作成 （1)富山大理, 2)アースコンサル） ○丸茂克美1), M. S. Nahar2)
O2-23 汎用走査型蛍光X線分析装置による金属アルミと酸化アルミの分別定量分析 （リガク） ○日下部寧, 森山孝男
O2-24 X線発光分光による非晶質アルミナ膜の化学状態評価 （三菱電機先端総研） ○上原康
休憩（15.00～15.20）
第8セッション（15.20～16.40）
O2-25 X線吸収分光法を用いた大気エアロゾル中の非水溶性硫黄の化学形態分析 （1)徳島大院社会産業理工, 2)広島大院工） ○山本祐平1), 山本孝1), 早川慎二郎2), 今井昭二1)
O2-26 銅イオン添加スズ含有ガラスの蛍光発光と発光中心のXAFS分析 （1)阿南高専, 2)国立高専機構, 3)東京医科歯科大） ○小西智也1), 釜野勝1), 上原信知2), 宇尾基弘3), 和田敬広3)
O2-27 二元素の同時XAFS測定法の開発と反応解析への応用 （立命大院生命） ○片山真祥, 山岸弘奈, 山本悠策, 山下翔平, 稲田康宏
O2-28 紙，布，テープ等の絶縁性日用品の全電子収量軟X線吸収測定 （1）兵県大院工, 2）兵県大工） ○村松康司1), 谷雪奈2)
閉会の辞（16.40～16.45）